Cristallographie : Symétrie et diffraction de rayons X

Présentation

Responsable de l'UE : Smaïl TRIKI

Compétences visées

Acquérir les bases de la symétrie spatiale, de la cristallographie géométrique et de la diffraction des rayons X. Comprendre le rôle de la symétrie dans la caractérisation des réseaux cristallins et les relations structure/propriétés.

Modalités de contrôle des connaissances

Session 1 ou session unique - Contrôle de connaissances

Nature de l'enseignementModalitéNatureDurée (min.)NombreCoefficientRemarques

Session 2 : Contrôle de connaissances

Nature de l'enseignementModalitéNatureDurée (min.)NombreCoefficientRemarques